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光學(xué)鍍膜元件的表面質(zhì)量及內材質(zhì)量都是以表面缺陷的程度進(jìn)行定義的，根據美國軍標，通常有三個(gè)標準來(lái)判定光學(xué)件的表面質(zhì)量。MIL-O-13830是1954年開(kāi)始執行，并且在1964年完成修訂的；MIL-C-48497是1974年開(kāi)始執行，并且在1980年完成修訂的；MIL-F-48616開(kāi)始于1974年。這些標準所定義的表面缺陷：劃痕和點(diǎn)子，如下所述：

劃痕－長(cháng)度遠遠超過(guò)寬度的表面缺陷。

點(diǎn)子－長(cháng)寬大致相等的表面缺陷。

劃痕及點(diǎn)子的判定是根據缺陷的寬度或直徑進(jìn)行的，并且在美國軍標中有獨立的條款規定。在最新的軍標中，將劃痕的指標定義為以0.001mm為單位；將點(diǎn)子的指標定義為以0.01mm為單位。在光學(xué)元件的設計時(shí)，可以使用相關(guān)的字母來(lái)標定質(zhì)量等級。下表將作詳細介紹。

一般光學(xué)零件圖紙中，正規的表面質(zhì)量表述方法是定義劃痕/點(diǎn)子的級別或代碼，并且附加上一個(gè)美軍標的序列號。劃痕/點(diǎn)子的級別或代碼將決定光學(xué)元件表面可以允許的劃痕/點(diǎn)子的尺寸及密度；而美國軍標的序列號，則定義的是檢驗及評價(jià)劃痕/點(diǎn)子的方法和環(huán)境。例如：F-F per MIL-F-48616 or 80-50 per MIL-O-13830。 
美國軍標 MIL-O-13830 
檢驗方法

將被檢元件放置在一塊磨砂玻璃的表面，用40瓦的燈泡照明從玻璃下方照明。表面磨砂的不透明部分呈長(cháng)條狀，必須大于玻璃表面的1/2。這些條狀的不透明部分可以幫助檢驗者觀(guān)察光學(xué)元件輕微的顏色缺陷，這些缺陷在普通光照下是很難被看到的。

檢驗使用裸眼，并通過(guò)對比美國軍標劃痕/點(diǎn)子的標準，來(lái)判定產(chǎn)品是否符合要求。每個(gè)表面都要獨立、分別檢驗及判定。

判定的方法—劃痕

當找到最大的劃痕后，將元件上劃痕總的數量乘以劃痕的長(cháng)度，并將結果除以元件的直徑，該數值不得大于1/2。如果找不到最大的劃痕，即將元件上劃痕的總長(cháng)除以元件的直徑，該數值不得大于1/2。

判定的方法—點(diǎn)子

在直徑20mm內，無(wú)論點(diǎn)子還是碎片的最大尺寸不得超過(guò)標準的規定。

在直徑20mm內，所有點(diǎn)子的直徑相加不得超過(guò)最大可以允許直徑的2倍。氣泡、雜質(zhì)的檢驗判定方法相同。

 
美國軍標 MIL-F-48616 
檢驗方法

檢測的環(huán)境要求是2~15瓦的熒光燈管，從下方或上方（根據檢驗透射元件或反射元件的實(shí)際需要）照明；并且有黑色背景。裸眼檢驗。并通過(guò)對比美國軍標劃痕/點(diǎn)子的標準，來(lái)判定產(chǎn)品是否符合要求。每個(gè)表面都要獨立、分別檢驗及判定。

判定的方法—劃痕

當找到最大的劃痕后，將元件上劃痕總的數量乘以劃痕的長(cháng)度，并將結果除以元件的直徑，該數值不得大于1/2。如果找不到最大的劃痕，即將元件上劃痕的總長(cháng)除以元件的直徑，該數值不得大于1/2。

判定的方法—點(diǎn)子

在直徑20mm內，無(wú)論點(diǎn)子還是碎片的最大尺寸不得超過(guò)標準的規定。

在直徑20mm內，所有點(diǎn)子的直徑相加不得超過(guò)最大可以允許直徑的2倍。氣泡、雜質(zhì)的檢驗判定方法相同。

這兩種檢驗方法各有優(yōu)點(diǎn)。MIL-F-48616可以更加方便的觀(guān)察到缺陷，并且有能力觀(guān)察到缺陷對成像的影響。但是針對點(diǎn)子的級別判定而言，MIL-O-13830更加快捷，可以直接同標準樣板進(jìn)行比對，無(wú)需另外測量。
 
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